产品简介全新的一体化设计，具有优异的光学成像质量，方便使用的正像光学系统，是理想的检测半导体器件的工具，支持3种激光波长，可在半导体和液晶基板中使用激光切......
产品简介全新的一体化设计，具有优异的光学成像质量，方便使用的正像光学系统，是理想的检测半导体器件的工具，支持3种激光波长，可在半导体和液晶基板中使用激光切......